一、儀器用途
能快速準確地測量各類平面、球面、斜面等光學元件的相/絕對透射率及漫透射測量，可用于實時顯示單、多點波長透過率數據及指定波段平均透過率數據、實時顯示半透波長及斜率等。適用于手機蓋板IR孔、隱藏孔（霧化孔、閃光燈孔）、弧形邊IR孔、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片光學元件等的透光率測量。

二、儀器特點
1.采用積分球全角度采集全穿透式測量；
2.實時顯示測量樣品關注波長位置的透射率數據及半透波長監測，自動調整顯示坐標范圍，高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析；
3.檢測時間毫秒級：高性能探測器，可在1秒內時間重現性高的測定；
4.可以自行定義測量的方案，同時設置判定標準，使檢測更快速，結果更準確。

三、技術規格
測量系統：單光束
測量方式：積分球全角度采集全穿透式測量
檢測器：Hamamatsu（薄型背照式FFT-CCD）
檢出限：0.05%
光度準確性：﹤0.6%（410-1000nm）
光度重復性：0.2%
波長檢測范圍：380-1100nm
信噪比（全信號）：450:1
波長重復率：0.1nm
樣品測試平臺：X、Y軸可調
光源：高功率鹵素光源
光斑直徑：＜0.3mm
樣品大小：≥0.5mm
測量時間：﹤1s
對焦方式：數字相機視頻對焦
物鏡：10X
軟件：Qspec Suite V1.0，可顯示單、多點波長數據，可手動和自動保存數據，自動統計所測產品批號總數、良品、不良品的數量及百分比并以報表的形式一鍵導出，可根據用戶標準校準機差
操作系統/接口：Windows 7 / USB2.0